Entenda as estimativas de rendimento no vFactory
Leia as entradas de densidade de defeitos e as probabilidades de três modelos.
Densidade de defeitos
No Cloud vFactory, “Estimativa de geometria e rendimento” reúne a geometria do wafer, as hipóteses de densidade de defeitos e as probabilidades de rendimento.
Entenda as estimativas de rendimento no vFactory
Leia as entradas de densidade de defeitos e as probabilidades de três modelos.
Premissas do modelo
- 1. D0 do usuário (defeitos/cm²) · Hipótese
- 2. D0 ambiental (defeitos/cm²)
- 4. Área do chip (cm²)
- 5. Coeficiente de agrupamento α
D0 total (defeitos/cm²)
- 3. D0 total (defeitos/cm²)
Probabilidades de rendimento
- 6. Probabilidade de Poisson
- 7. Probabilidade de Murphy
- 8. Probabilidade binomial negativa
Conexões
- 1. D0 do usuário (defeitos/cm²) · Hipótese → 3. D0 total (defeitos/cm²): +
- 2. D0 ambiental (defeitos/cm²) → 3. D0 total (defeitos/cm²): +
- 3. D0 total (defeitos/cm²) → 6. Probabilidade de Poisson: D0
- 3. D0 total (defeitos/cm²) → 7. Probabilidade de Murphy: D0
- 3. D0 total (defeitos/cm²) → 8. Probabilidade binomial negativa: D0
- 4. Área do chip (cm²) → 6. Probabilidade de Poisson: A
- 4. Área do chip (cm²) → 7. Probabilidade de Murphy: A
- 4. Área do chip (cm²) → 8. Probabilidade binomial negativa: A
- 5. Coeficiente de agrupamento α → 8. Probabilidade binomial negativa: α
“D0 do usuário (defeitos/cm²) · Hipótese” mais “D0 ambiental (defeitos/cm²)” resulta em “D0 total (defeitos/cm²)”. D0 é expresso em defeitos/cm². A contribuição ambiental é calculada com base nas hipóteses da sala limpa.
Três modelos
“Probabilidade de Poisson”, “Probabilidade de Murphy” e “Probabilidade binomial negativa” usam a mesma área do chip em cm² e o D0 total. O modelo binomial negativo também usa α para controlar o agrupamento. Compare as três probabilidades considerando as hipóteses.
As estimativas são resultados de modelos baseados nas hipóteses declaradas, não rendimento medido, certificação ou previsão para uma fábrica real.