Tham số clip EUV

Tra cứu giá trị mặc định của kế hoạch clip và giá trị yêu cầu quang học cho tạo ảnh EUV cục bộ.

Tài liệu tham chiếu này áp dụng cho vFactory trên Cloud 2.1.2.10 và Windows 2.1.2.3.

Vùng cắt EUV thiết lập tạo ảnh cục bộ cho hình học GDS đã nhập. Hình học và lát cắt dùng nm trên mặt nạ. Cung cấp quang học tường minh để tạo ảnh cục bộ.

Lập kế hoạch clip

Bộ lập kế hoạch làm tròn halo lên thành số nguyên lần khoảng raster. Một lần chạy chấp nhận tối đa 64 ô.

Trường

Giá trị ban đầu sau khi nhập

Lớp và kiểu dữ liệu

Lớp của đa giác đầu tiên đã nhập.

X vùng (nm mặt nạ), Y vùng (nm mặt nạ)

Giá trị X và Y nhỏ nhất của đa giác đầu tiên đã nhập.

Chiều rộng vùng (nm mặt nạ), Chiều cao vùng (nm mặt nạ)

Kích thước của đa giác đầu tiên, giới hạn trong 4–512 nm trên mỗi trục.

Độ phân giải raster (nm mặt nạ)

4

Vùng đệm (nm mặt nạ)

32

Kích thước ô (nm mặt nạ)

512

Yêu cầu quang học

Các khoảng dưới đây là giá trị hiển thị trong ô nhập số. Giá trị mất nét là các số hữu hạn khác nhau, phân tách bằng dấu phẩy.

Trường

Giá trị ban đầu; giá trị đầu vào

Bước sóng (nm)

13,5; từ 0,001

Khẩu độ số

0,33; 0,001–0,55

Tỷ lệ che khuất

0; 0–0,999

Nguồn chiếu sáng

Thông thường; Thông thường, Dạng vành khuyên, Lưỡng cực, Tứ cực, Nguồn điểm ảnh

Danh sách độ lệch tiêu (nm)

0; 1–32 giá trị

Ngưỡng (Iref = 1)

0,5; từ 0,001

Chiều rộng lưới đầu ra, Chiều cao lưới đầu ra

Mỗi chiều 64; số nguyên từ 2 đến 512

Thiết lập quang học nâng cao

Dữ liệu quang học tường minh (JSON) chứa stack, absorber, chiefRayDeg, polarization, transport và reflectionPlaneNm. Chiết suất môi trường là {re: 1, im: 0}; phân cực là x hoặc y; truyền tải là ideal-vector-v1 hoặc euvlitho-vector-v1.

Đa thức Zernike (JSON) chấp nhận tối đa 37 số hạng với các chỉ số Noll khác nhau từ 1 đến 37 và coefficientWaves tính bằng bước sóng. Điểm nguồn điểm ảnh (JSON) chấp nhận 1–256 điểm trong đồng tử đơn vị, có trọng số không âm và tổng dương.

Tham số số học (JSON; null dùng mặc định của bộ máy) chấp nhận null, hoặc refinements bằng 2 hay 3 với method tùy chọn là abbe, hopkins hoặc socs. Lấy mẫu mặt nạ (JSON; null dùng mặc định của bộ máy) chấp nhận null, lấy mẫu liên tục hoặc lấy mẫu pixel với chiều rộng và chiều cao là số nguyên từ 1 đến 8192.

Hướng dẫn liên quan

Dùng vFactory: khám phá fab và theo dõi thiết kế đến wafer

Bố trí fab tham chiếu, dữ liệu quy trình và kết quả sử dụng các giả định minh họa.