Рассчитать оптический и фотонный баланс EUV

Сравните входные данные и результаты модели в расчёте EUV в Cloud 2.1.2.10 или Windows 2.1.2.3.

Выполнить расчёт

Откройте Расчёт EUV в vFactory и выберите набор параметров источника.

Проверьте Многослойная Mo/Si с покрытием Ru, Допущения о дозе и сканировании и Допущения о фотонах. Значения должны оставаться в указанных диапазонах.

Выберите Рассчитать EUV.

Входные данные Многослойная Mo/Si с покрытием Ru (число периодов Mo/Si, толщина Mo, толщина Si и толщина покрытия Ru, угол падения от нормали 0°, отражения в осветителе, отражения от маски и отражения в проекционной оптике), первые входные данные Допущения о дозе и сканировании, результаты дозы и сканирования и график Плоский оптический отклик отражения от длины волны для s-поляризации и p-поляризации.

Входные данные многослойного покрытия задают модель отражательной способности. После расчёта Плоский оптический отклик строит отражение для s-поляризации и p-поляризации в зависимости от длины волны.

Прочитать результаты

Баланс мощности света показывает мощность по этапам, дозу, скорость сканирования и число пластин в час.

Плоский оптический отклик показывает отражение s и p в зависимости от длины волны и угла, а также R / T / A при 13.5 нм. Откройте Таблица данных по длине волны или Таблица данных по углу для точных значений.

Баланс фотонов и шум показывает энергию фотонов, средние количества и идеальную пуассоновскую дисперсию. Сопоставьте результаты с Источники и допущения.

Результаты после Рассчитать EUV: таблица R / T / A при 13.5 nm с одинаковыми отражением, пропусканием и поглощением для s-поляризации и p-поляризации и таблица Баланс фотонов и шум для 20 mJ/cm² на 100 nm² с поглощённой долей 0.5, где указаны энергия фотонов, средние числа падающих и поглощённых фотонов и их идеальная пуассоновская дисперсия.

Баланс фотонов и шум сравнивает числа падающих и поглощённых фотонов с их идеальной пуассоновской дисперсией при 13.5 nm.

vFactory

Это результаты модели на основе допущений, а не измеренная производительность оборудования или прогноз для реальной фабрики. При изменении длины волны оптические показатели для 13.5 нм остаются постоянными; идеальная пуассоновская статистика не предсказывает дефекты резиста или выход годных.