在 vFactory 中首次計算 EUV 預算

檢查光源與掃描輸入值,計算 EUV 預算,並查看光學與光子結果。

EUV 計算工具在 Cloud 或 Windows 應用程式的 vFactory 中於本機執行。開始前,請依照下方指南開啟 vFactory。

在 vFactory 中開啟參考晶圓廠

檢查輸入值

  1. 選取 EUV 計算 分頁。

  2. 首次計算時,保留初始光源預設組態與輸入值。

  3. 檢查 劑量與掃描假設 與 光子計算假設。在 Cloud 上,展開 來源與假設,查看各輸入值的來源或假設。在 Windows 上,查看各輸入值範圍旁的標籤。

計算前的 EUV 計算:含雷射光源輸入及其範圍的 RIKEN 2026 · 單光束光源預設組態、第一組 Mo/Si 多層膜 + Ru 蓋層輸入、空白的光收支、平面光學響應與光子收支與雜訊區段,以及展開後為每個輸入列出 RIKEN 2026 實驗或假設的來源與假設。

初始的 RIKEN 2026 · 單光束預設組態。來源與假設顯示每個輸入來自 RIKEN 2026 實驗或屬於假設。

計算預算

  1. 選擇 計算 EUV。

  2. 出現 EUV 計算已完成。 時,查看 光收支,瞭解光路上的功率,以及劑量與時間結果。

  3. 查看 平面光學響應,瞭解不同波長與角度的反射率。查看 光子收支與雜訊,瞭解光子數與理想卜瓦松變異數。

計算 EUV 之後的 EUV 計算:訊息 EUV 計算已完成。、未變更的 RIKEN 2026 · 單光束輸入,以及光收支中從驅動雷射 (40 W) 到晶圓面的光源至晶圓功率條,和各階段光收支表。

計算 EUV 之後,光收支顯示光路上各階段的功率,從驅動雷射到晶圓。

變更輸入值

變更輸入值會清除先前的結果。在欄位顯示的範圍內輸入數值,然後再次選擇 計算 EUV。

輸出是根據提供的輸入值與假設計算而得,並非掃描機產能、光譜或生產資料的實測結果。